Kategorien elektroniknet.de / Rubriken / Messen+Testen Im Interview: Dr. James Truchard von National Instruments

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  • hochgeladen 24. Mai 2012

Auf der Sensor+Test trafen wir den Gründer und CEO von National Instruments, Dr. James Truchard, der uns einen Überblick über die neuesten Produkte seines Unternehmens gab.

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